01/03/2023
令和5年2月22日(水)、当センターで、走査型電子顕微鏡(SEM)セミナーが開催されました。
今回のセミナーは(株)東栄化学産業様と日本電子(株)様にご協力いただき、SEM観察の基礎・応用について基本的な原理から実際の観察事例までを詳しくご説明いただきました。
まず、「前処理方法 クロスセクションポリッシャ」についてです。
この最新機種は前処理方法のため当センターの機器とは操作法が違い、この装置はブロードなAr+イオンビームと遮蔽(しゃへい)板を用いて試料の断面を加工する新しい発想の断面試料作製装置です。これまで経験を必要とした他の手法に比べ、個人差が無く質の良い断面を短時間で得る事ができます。 前処理方法の違いにより見え方がだいぶ違うことが理解できました。
次に、「卓上走査電子顕微鏡 JCM-7000の紹介とデモ実演」です。「誰でもSEM/EDSを操作できる」がコンセプトの卓上走査電子顕微鏡(卓上SEM)として開発されました。
最新のSEMの操作性の向上に、参加された皆さんは驚いている様子でした。事例を交え解説していただいた今回のセミナーは、今後、最新機器を扱ううえで大変役立つものでありました。
当センターでは、今後も測定機器のセミナーを開催します。
昨年開催した「異物分析・観察 体験会」のような、様々な装置類を持ち込んだ展示会形式も予定しております。実際に体験してみてはいかがでしょうか。
ご興味をお持ちの方は、是非ご参加下さい。
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